Reliability test信頼性試験
製品の品質・信頼性は、設計時点での作り込みが大きなウエイトを占めております。設計時に今まで蓄積された信頼性データなどを基にお客さまの使用条件等も考慮した品質・信頼性設計を行い、その妥当性を信頼性試験で確認しております。
当社の信頼性試験は「JEITA ED 4701」あるいは「MIL-STD-883」を基に実施しており、試験結果は定常的にデータの蓄積を行い、設計部門や製造プロセス部門にフィードバックして信頼性の向上に努めております。
当社の標準的な信頼性試験条件を下表に示します。
個々の製品の信頼性試験条件につきましては、別途、お問い合わせください。
信頼性試験条件（標準）
| No. | 試験項目 | 試験方法 | 判定基準 | ||
|---|---|---|---|---|---|
| 参考規格 | 試験条件 | 試験時間 | |||
| 1 | 高温保存 | JEITA EIAJ ED-4701/201 MIL-STD-883 1008.2 |
Ta=125℃ | 1000h | 個別製品仕様書に規定する電気的特性を満足すること |
| 2 | 動作寿命 | JEITA EIAJ ED-4701/101 MIL-STD-883 1005.8 |
Ta=125℃ VDD=MAX |
1000h | 個別製品仕様書に規定する電気的特性を満足すること |
| 3 | 高温高湿バイアス | JEITA EIAJ ED-4701/102 MIL-STD-883 1005.2 |
Ta=85℃ RH=85% VDD=MAX*1 |
1000h | 個別製品仕様書に規定する電気的特性を満足すること |
| 4 | 不飽和蒸気加圧 (プレッシャークッカー) |
JEITA EIAJ ED-4701/102 |
Ta=125℃ RH=85% 2気圧*1 |
100h | 個別製品仕様書に規定する電気的特性を満足すること |
| 5 | 温度サイクル | JEITA EIAJ ED-4701/105 MIL-STD-883 1010.7 |
-55℃/RT/125℃ (30min/5min/30min) |
100cycle | 個別製品仕様書に規定する電気的特性を満足すること |
| 6 | はんだ耐熱性 | JEITA EIAJ ED-4701/301 JEITA EIAJ ED-4701/302 JIS-C0050,C0054 |
赤外線リフロー Ta=255±5℃ 2Times*2 |
10sec | 外観上異常が認められないこと、個別製品仕様書に規定する電気的特性を満足すること |
| 7 | はんだ付け性 | JEITA EIAJ ED-4701/303 MIL-STD-883 2003.7 |
Ta=240℃ | 3sec | アウターリードの95%以上が被覆されていること |
| 8 | 静電破壊 | JEITA EIAJ ED-4701/304 (MM) |
コンデンサチャージ法 C=200pF,R=0Ω,5回印加 全端子の正負強度,Ta=RT N=各条件3PC’s 全端子 200V |
個別製品仕様書に規定する電気的特性を満足すること | |
| 8 | 静電破壊 | MIL-STD-883 3015.7 (HBM) |
コンデンサチャージ法 C=100pF, R=1.5KΩ, 3回印加 全端子の正負強度, Ta=RT N=各条件3PC’s 全端子 2000V |
個別製品仕様書に規定する電気的特性を満足すること | |
| 9 | ラッチアップ | JEITA EIAJ ED-4701/306 JEDEC JESD78 |
パルス電流法 VDDに対して正パルス印加 VSSに対して負パルス印加 印加条件：パルス幅 10msec Ta=RT、N=3PC’s 全入･出力端子 100ｍA |
個別製品仕様書に規定する電気的特性を満足すること | |
- *1前処理条件:85℃/85% 168h→赤外線リフロー255±5℃、10sec、2Times（SMDのみ実施）
- *2前処理条件:85℃/85% 168h（SMDのみ実施）
お客様に満足いただける品質を達成するため、企画、開発、生産、出荷までのプロセスと連携を示します
蓄積された信頼性データに基づき品質・信頼性設計の妥当性を信頼性試験で評価します
半導体製品は周辺環境の影響を受けやすいため、取り扱い、保管には十分にご注意をお願いします
故障個所や不具合の原因を特定するための社内の解析体制と解析事例についてご紹介します
ロット番号による製品の生産、加工、検査、出荷までの工程情報を記録、検索や追跡を可能にしています
地球環境との調和を目指し、サプライチェーンも含めた製品に含まれる有害化学物質の削減に取り組んでいます