Defect故障・不具合時の解析体制
解析のための設備
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分析・評価室
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電子顕微鏡＋EDX
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FIB収束イオンビーム装置
お客様に満足いただける品質を達成するため、企画、開発、生産、出荷までのプロセスと連携を示します
蓄積された信頼性データに基づき品質・信頼性設計の妥当性を信頼性試験で評価します
半導体製品は周辺環境の影響を受けやすいため、取り扱い、保管には十分にご注意をお願いします
故障個所や不具合の原因を特定するための社内の解析体制と解析事例についてご紹介します
ロット番号による製品の生産、加工、検査、出荷までの工程情報を記録、検索や追跡を可能にしています
地球環境との調和を目指し、サプライチェーンも含めた製品に含まれる有害化学物質の削減に取り組んでいます