信頼性試験

製品の品質・信頼性は、設計時点での作り込みが大きなウエイトを占めております。設計時に今まで蓄積された信頼性データなどを基にお客さまの使用条件等も考慮した品質・信頼性設計を行い、その妥当性を信頼性試験で確認しております。セイコーNPCの信頼性試験は「JEITA ED 4701」あるいは「MIL-STD-883」を基に実施しており、試験結果は定常的にデータの蓄積を行い、設計部門や製造プロセス部門にフィードバックして信頼性の向上に努めております。セイコーNPCの標準的な信頼性試験条件を下表に示します。
*光関連商品につきましては、別信頼性試験条件となりますので、別途お問い合わせください。

信頼性試験条件(標準)

No. 試験項目 試験方法 判定基準
参考規格 試験条件 試験
時間
1 高温
保存
JEITA
EIAJ ED-4701/201
MIL-STD-883 1008.2
Ta=125℃ 1000h 個別製品仕様書に規定する電気的特性を満足すること
2 動作寿命 JEITA
EIAJ ED-4701/101
MIL-STD-883 1005.8
Ta=125℃
VDD=MAX
1000h 個別製品仕様書に規定する電気的特性を満足すること
3 高温高湿バイアス JEITA
EIAJ ED-4701/102
MIL-STD-883 1005.2
Ta=85℃
RH=85%
VDD=MAX*1
1000h 個別製品仕様書に規定する電気的特性を満足すること
4 不飽和蒸気加圧
(プレッシャークッカー)
JEITA
EIAJ ED-4701/102
Ta=125℃
RH=85%
2気圧*1
100h 個別製品仕様書に規定する電気的特性を満足すること
5 温度サイクル JEITA
EIAJ ED-4701/105
MIL-STD-883 1010.7
-55℃/RT/125℃
(30min/5min/30min)
100cycle 個別製品仕様書に規定する電気的特性を満足すること
6 はんだ耐熱性 JEITA
EIAJ ED-4701/301
JEITA
EIAJ ED-4701/302
JIS-C0050,C0054
赤外線リフロー
Ta=255±5℃
2Times*2
10sec 外観上異常が認められないこと、個別製品仕様書に規定する電気的特性を満足すること
7 はんだ付け性 JEITA
EIAJ ED-4701/303
MIL-STD-883 2003.7
Ta=240℃ 3sec アウターリードの95%以上が被覆されていること
8 静電破壊 JEITA
EIAJ ED-4701/304
(MM)
コンデンサチャージ法
C=200pF,R=0Ω,5回印加
全端子の正負強度,Ta=RT
N=各条件3PC’s
全端子 200V
個別製品仕様書に規定する電気的特性を満足すること
MIL-STD-883 3015.7
(HBM)
コンデンサチャージ法
C=100pF, R=1.5KΩ, 3回印加
全端子の正負強度, Ta=RT
N=各条件3PC’s
全端子 2000V
9 ラッチアップ JEITA
EIAJ ED-4701/306
JEDEC JESD78
パルス電流法
VDDに対して正パルス印加
VSSに対して負パルス印加
印加条件:パルス幅 10msec
Ta=RT、N=3PC’s
全入・出力端子 100mA
個別製品仕様書に規定する電気的特性を満足すること

*1前処理条件:85℃/85% 168h→赤外線リフロー255±5℃、10sec、2Times(SMDのみ実施)

*2前処理条件:85℃/85% 168h(SMDのみ実施)